OptoWave 40

  • 概要 +


    Optowave 40 はフル機能の干渉計で、平面または球面、および光学コンポーネントおよびアセンブリの送信波面の非接触計測が可能です。Optowave 40 はコンタクトレンズ、眼内レンズおよび金型インサートなどを含むがこれらに限らない幅広い光学コンポーネントの測定に理想的です。測定は、簡単かつ基本的な目視フリンジ検査、IntelliPhaseTM 静止空間キャリア分析、または位相変調インターフェログラム分析を用いて可能です。Optowave 40 は今日の応用を今までになかった価値で取り扱う柔軟性を提供します。

    光学コンポーネントおよびアセンブリの非接触および送信波面測定

    応用

    – 小型光学製品の伝送および表面テスト
    – 光学、加工パーツ、セラミック、半導体、およびウエハーの測定
    – 統合 ROC 測定

    主な特徴および利点

    – 最小直径 0.5 mm までのパーツ測定向け 6 倍ズーム
    – 3 モードでのインターフェログラム分析 - 位相シフト、

    IntelliPhaseTM - 静止空間キャリア分析、またはフリンジ追跡(自動または手動)
    – 小型でフォームファクタ設計のため OEM システムに簡単に統合可能
    – コンパクトで、頑丈な設計
    – F/0.7 から F/6.0 までの伝送球面


  • IntelliWave ソフトウェア機能 +


    – 位相シフトまたは静的捕捉および分析

    – PV、RMS 測定、ストレール比

    – Zernike および Seidel 分析

    – 回析分析 (PSF、MTF、取り囲まれたエネルギー)

    – 幾何学分析(幾何学スポット図、取り囲まれたエネルギー)

    – 工場現場向け自動化

    – ノイズデータ用パワーフィルタリングおよび平均化機能

    – MATLABTM、IDLTM、MS ExcelTM、および LabVIEWTMとのインターフェース

    – IntelliPhaseTM – 静止空間キャリア分析



  • パンフレット +